点击图片查看原图粗糙度测量仪DIAVITE Compact II
ATORN DIAVITE带有进给单元VH的移动式粗糙度测量装置，用于滑动式探头
- 型号：DIAVITE Compact II VH
- 探针系统：流道探针系统
- 表面粗糙度测量范围：350 µm，20 µm
- 最小 扫描路径：0.5毫米
- 最大限度。扫描长度：15毫米
- 表面粗糙度分辨率：0.001 µm，0.01 µm
- 阈值波长：0.25 mm，0.8 mm，2.5 mm
- 测量配置文件存储器（配置文件数）：15 PCS
- 数据传输类型：USB
- 毛重：2478 g
atorn应用
紧凑的移动式粗糙度测量设备，用于在生产设施和测量室中进行标准粗糙度测量。
atorn执行
- 带有进给单元VH的测针仪，用于打滑式探头
- 粗糙度参数符合DIN ISO，JIS，ASME
- 带金刚石探针尖端的标准探针SH 5 µm
atorn优势
- 简单直观的操作，无需培训
- 使用带有扫描路径的永久性截止滤光片进行安全测量
- 进料单元可以集成到设备中进行无线测量
- 全方位，水平，垂直和高空测量
atorn交货
显示设备，带进纸单元，标准传感器SH 5μm/ 90°，适配器和进纸单元连接电缆，电源/充电器，带有DIASOFT Basic软件的CD，用于PC的USB连接电缆，粗糙度标准 Ra 3 µm，情况
ATORN DIAVITE粗糙度测量仪DIAVITE Compact II
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